Technische Universität Dresden

Dipl.-Ing. Susann Rothe
Wissenschaftliche Mitarbeiterin

Forschung

• Methoden zur Simulation und Vermeidung von Migrationsprozessen in integrierten Schaltkreisen

Veröffentlichungen

• S. Rothe, J. Lienig, S. S. Sapatnekar: “Stress-based Electromigration Modeling in IC Design: Moving from Theory to Practice,” [pdf] in Proc. of the Int. Conf. on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD 2024), Volos, Greece, July 2024.

• S. Rothe, J. Lienig: “Combined Modeling of Electromigration, Thermal and Stress Migration in AC Interconnect Lines,” [pdf, DOI] in Proc. of the ACM 2023 Int. Symposium on Physical Design (ISPD'23), Virtuelle Veranstaltung, März 2023.

• S. Rothe, J. Lienig: “Reliability by Design: Avoiding Migration-Induced Failure in IC Interconnects,” [pdf, IEEEXplore] in Proc. Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), August 2022, Brasilien.

• J. Lienig, S. Rothe, M. Thiele, N. Rangarajan, M. Nabeel, H. Amrouch, O. Sinanoglu, and J. Knechtel: “Toward security closure in the face of reliability effects,” [pdf, IEEEXplore] in Proc. IEEE/ACM Int. Conf. Comput.-Aided Des. (ICCAD), Special Session, 2021.

• Diplomarbeit, TU Dresden
  Aufbau einer Verdrahtungsbibliothek für den elektromigationsrobusten Schaltkreisentwurf,
  Sept. 2021

• Studienarbeit, TU Dresden
  Konzeptionierung eines Werkzeugs zur automatisierten Übersetzung von Entwurfsregelformaten,
  Aug. 2020

Vorträge

• “Combined Modeling of Electromigration, Thermal and Stress Migration in AC Interconnect Lines,” [slides] 17th International Conference Reliability and Stress-Related Phenomena in Nanoelectronics (IRSP), April 2023, Bad Schandau

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